美國GE USM Go可升級測厚的探傷儀的詳細資料：

美國GE USM Go可升級測厚的探傷儀

GE的檢測技術公司的新型超聲波Go平臺將一個厚度計和一個探傷器結合在一個單一的輕型儀器中。

提高生產率

USM Go具有直觀的操作，因此幾乎沒有耗時的學習曲線。你從你拾起來的那一刻起是有生產力的！沒有必要參考手冊，因為你提供了清楚的說明。使用經過驗證的圖形用戶界面（GUI）和創(chuàng)新的操縱桿簡化了導航，允許單手操作進行快速和的調整。

提高生產率的其他特性有：

• 堅固的模制橡膠外殼，可承受zui惡劣的環(huán)境，顯著減少停機時間。該儀器防塵防水達到IP67，經過測試，可承受沖擊和振動。
• 一個簡單的板載數(shù)據(jù)記錄器，用于收集和保存厚度測量值或zui終附加相應的A掃描圖像。

高UT性能：

• 良好的電子設備，包括數(shù)字放大，具有廣泛的應用優(yōu)勢。 
• 寬脈沖重復頻率范圍允許在低PRF下使用，以檢查沒有任何“重影”回波的鍛造零件，并在需要快速和規(guī)則的掃描運動時檢查高PRF的焊縫。 
• 可選擇的方波脈沖發(fā)生器，用于更苛刻的應用。
• 多功能和可升級的USM Go的定制版本也可用，特別適用于滿足特定的檢驗代碼或應用程序。例如，可以為涉及高衰減材料的檢查的應用提供可選的方波脈沖發(fā)生器。表中顯示的版本目前可用。

主要技術參數(shù)：

液晶顯示器：
有效面積W×H：108mm×64.8mm（4.25“×2.55”）
屏幕對角線5.0“
像素分辨率W x H：800 x 480像素
連接器
探頭連接器兩個LEMO-00
UT輸出連接器SAP輸出，報JING
USB接口Micro USB連接器
SD卡連接器全尺寸SD卡插槽，以容納標準SD卡

脈沖發(fā)生器 - 所有脈沖發(fā)生器測量根據(jù)EN12668規(guī)格進行
脈沖模式模擬尖峰標準，單極方波可選
脈沖電壓（SQ模式）120 V至300 V，步長為10 V.
脈沖寬度（SQ模式）30 ns至500 ns，步長為20 ns
脈沖幅度（尖峰模式）低：120 V高：300 V
阻尼：50或1000歐姆PRF在15 Hz至2000 Hz之間自動優(yōu)化，
3種自動調整模式：AutoLow，AutoMed，
自動高 - 手動控制PRF從15到2000 Hz