qnix 4200涂層測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：

qnix 4200涂層測(cè)厚儀

零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量
無(wú)需校準(zhǔn)：多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù)：使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。
詳細(xì)描述：測(cè)量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層，如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁等；

維護(hù)和維修：
QNix4200/4500 測(cè)厚儀采用的電子技術(shù),能滿足各種不同的測(cè)量要 求。高精度的設(shè)備,堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點(diǎn)使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。 只要正確使用和維護(hù),它的壽命會(huì)很長(zhǎng)。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與 潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣 體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護(hù)性 和便于挪動(dòng)的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測(cè)量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴 露在強(qiáng)烈的陽(yáng)光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對(duì)大多數(shù)溶劑具有抵抗性, 但不能保證少數(shù)化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,只有探針保持清潔,才能獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),所 以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長(zhǎng)期不被使用時(shí), 為 避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時(shí),請(qǐng)不要自行修理,我們的維修部門(mén) 隨時(shí)竭誠(chéng)為您服務(wù)。 產(chǎn)品從購(gòu)買(mǎi)之日起保修一年，紅寶石磨損及其他人為因素造成儀器損壞不予 保修。   

產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.簡(jiǎn)單快速測(cè)量
2.不需要校準(zhǔn)
3.自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)
4.雙用探頭，性價(jià)比高(QNix 4500 / QNix 4500P)
5.霍爾傳感器讓測(cè)量更穩(wěn)定
6.測(cè)量時(shí)聲音同步
7.紅寶石耐磨頭，壽命長(zhǎng)
8.背光LED顯示，讀數(shù)更加清晰
9.自動(dòng)識(shí)別測(cè)量基體
10.分體式探頭，滿足不同的測(cè)量環(huán)境

 篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：

    ==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；

    ==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；

    ==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；

    ==>>德國(guó)EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；

    ==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；

    ==>>美國(guó)API  XD系列激光干涉儀；

    ==>>美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；

    ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；

    ==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；

    ==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測(cè)量系統(tǒng)；

    ==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；

    ==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；

   ==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)機(jī)；

   ==>>杭州思看科技三維掃描儀.