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深孔與復(fù)雜表面的粗糙度測量，一直是工業(yè)檢測中的難題。泰勒霍普森 Surtronic S116 粗糙度儀憑借特設(shè)計(jì)，在這方面展現(xiàn)出強(qiáng)大實(shí)力，堪稱復(fù)雜表面測量的專家。

S116 標(biāo)配 50mm 測針升降裝置與直角附件，這一巧妙配置使其擁有 “超長探測臂"，可深入 70mm 深的孔或管道內(nèi)部，無需借助額外的昂貴工裝，便能輕松完成檢測任務(wù)，大大提高檢測效率與便捷性。儀器的防滑 V 型腳架設(shè)計(jì)匠心，無論是平滑的平面，還是圓柱、弧面等曲面，都能實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定安裝。更為出色的是，測針具備反向測量底部結(jié)構(gòu)的功能，對于形狀復(fù)雜的工件，也能地進(jìn)行測量，精準(zhǔn)獲取表面粗糙度數(shù)據(jù)。

在操作上，S116 同樣十分便捷。具備即開即用特性，待機(jī)狀態(tài)下 1 秒即可喚醒，快速開啟測量工作。4.3 英寸觸摸屏界面直觀簡潔，單頁可同時(shí)清晰顯示 7 個(gè)參數(shù)，并支持快捷鍵快速設(shè)置，操作流暢高效。屏幕支持四向旋轉(zhuǎn)，即便處于高空、倒置等非常規(guī)測量角度，也能確保數(shù)據(jù)讀取清晰準(zhǔn)確，為復(fù)雜環(huán)境下的測量工作提供有力支持。