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fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀 有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

FISCHERSCOPE XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀 是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。

X射線熒光鍍層測厚儀helmut-fischer xan500 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進行材料分析。

德國菲希爾鍍層測厚儀xdv-μ-pcb XDV-μ型系列儀器是專為在很微小結(jié)構(gòu)上進行高精度鍍層厚度測星和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡, 光斑直徑（ FWHM ）可達10至60μm。

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菲希爾涂層非接觸X射線測厚儀 菲希爾涂層非接觸 X 射線測厚儀基于 X 射線與物質(zhì)的相互作用原理。當 X 射線照射到被測物體表面時，一部分 X 射線會被涂層吸收和散射，另一部分則會穿透涂層到達基體。通過測量穿透涂層的 X 射線強度，并與已知厚度的標準樣品進行對比，就可以精確計算出涂層的厚度。

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